一：仪器设备名称：高分辩X射线衍射仪(High Rosolution X-Ray Diffactometor)  

型号：D5005HR  

生产厂家：Bruker AXS  

主要技术参数：

X射线发生器： 3KW,  

测角范围： -110°～168°,   

测角重现性：±0.0001°  

仪器性能：

Ge 四晶单色器提供纯Ka1平行光，分辨率12’’  

χ圆样品台，七个自由度，可放置大样品  

Ge 四晶单色器， Ge双晶单色器，LiF平晶单色器 等  

二：服务项目（测试项目）  

测量薄膜或晶体样品的摇摆曲线，对结晶质量，杂质浓度精确评估。  

倒易点mapping 图评估结晶质量。  

掠入射法测量反射率，材料表明粗糙度及密度。  

层状材料层的厚度及化学配比  

点阵参数精密测量  

三：服务指南  

负责人：张倩倩

联系方式  

电话：132 5668 2286

E-mail：

仪器放置地点：  

功能晶体材料楼330室  

测试样品要求：  

薄膜样品，单晶样品  

收费标准：  

120圆 / 每个样品 （摇摆曲线）