一、仪器简介

1、型号：MicroTime 200

2、生产厂家：德国PicoQuant

3、主要技术指标：

1）光学系统可兼容使用375nm, 405nm和510nm的激发光源，或者超连续谱激光器，搭配高分辨光谱仪系统，可分析荧光信号波长覆盖400-1000nm。

2）系统时间分辨率达到500ps，空间分辨率<500nm。

3）可搭配连续激光器，皮秒脉冲激光器和超连续谱激光器实现所需功能。

4）高功率皮秒脉冲光源参数：

中心波长：405nm±10nm，功率>20mW,配置光耦合模块接入显微系统。

5）系统配置台式多通道高精度单光子计数器，用于单分子/单颗粒灵敏度信号分析：时间分辨率可达到80 ps,荧光寿命窗口最长达到秒级别，探测器接口：4个独立接口，最短死时间低至650ps，计数率最高至80Mcps,计数时间通道数：>=65536，内置延时器调节范围：±100ns。

6）寿命测试范围：<1000ps–>1ms

7）配置单分子灵敏度检测器，类型是混合型单光子光电倍增探测器，内置制冷。典型峰值探测效率：>65%；暗计数：<250 cps；时间分辨率<500ps。

8）FLIM/FCS全功能软件：运行于64位Windows系统，包含FLIM, FRET, FLIM-FRET, FCS, FCCS, FLCS, FLCCS, Time-Trace, TCSPC Histograms, Anti-bunching, Pattern matching等功能；

9）三维XYZ压电扫描台，nm分辨率(XY方向)

10）支持联用AFM升级用于nm级别分辨率的纳米材料或生物样品的形貌检测

11）支持升级宽场荧光照明器

12）已配置预留额外光出口，光纤输出接口，可连接光谱仪

13）内置光斑诊断分析模块，用于单分子光路调整

二、设备功能（测试项目）

（1）荧光寿命成像可以研究纳米材料的缺陷、晶畴边界、边缘结构等。对材料微区进行荧光寿命成像分析，搭配光谱仪进行荧光强度和峰位置对比分析。

（2）荧光现象多发生在纳秒级，荧光寿命权重的关联光谱测定可以观测到许多复杂的分子间作用过程；

（3）分子的荧光寿命与自身的结构、所处微环境的极性、粘度等条件有关，通过荧光寿命测定可以直接了解所研究体系发生的变化；

（4）单分子时间强度轨迹分析可以分析单个量子点的blinking现象以及反聚束效应等量子特性。

三、样品要求

粉末、薄膜、块状单晶、有机试剂均可

四、收费标准

1、单个样品收费900元，可以选取图像两个位点的荧光强度和/或寿命曲线，多于两个位点部分每个荧光强度或者荧光寿命额外收费50元。

2、一个样品扫描多张荧光寿命图像时，每多加1张荧光寿命图像额外收费100元。

五、联系方式

1、联系人：

李蓓，17865595032，1325554525@qq.com

郑老师，zkzheng@sdu.edu.cn

2、设备放置地点：济南(中心校区)生命北楼325