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X射线光电子能谱测试系统

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发布时间:2025年10月14日 09:00
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一、仪器简介

1、型号:ESCALAB Qi

2、生产厂家:ThermoFisher SCIENTIFIC

3、主要技术指标:

(1)普通XPS:

单色化Al Kα X射线源,束斑200μm~900μm之间连续可调,对Ag3d5/2峰,半高宽优于0.45eV。

(2)紫外光电子能谱(UPS):能量分辨率:Ag费米边不大于100 meV。

(3)XPS深度剖析:

单离子刻蚀模式,刻蚀能量:500-4k eV连续可调;

团簇离子刻蚀模式,团簇离子数目:75-2000个,刻蚀能量:2keV-8keV。

(4)原位光照:氙灯光源波长范围: 200 nm-2200 nm。

(5)成像XPS:对Ag3d5/2空间分辨率优于1µm。

二、设备功能(测试项目)

1、普通XPS:对样品表面进行全谱和指定元素窄谱扫描,可实现对样品表面(<10nm)元素组成及化学态的定性及半定量分析。

2、UPS:通过测量价层电子的能量分布从中获得有关价电子结构的各种信息。

3、深度剖析(刻蚀):通过离子溅射剥离测试区域最外层,对样品进行逐层分析;可以得到各元素及其各化学态含量随样品深度(刻蚀时间)的变化。

4、原位光照:光照下的XPS测试。

5、成像XPS:对样品进行微区分析,获得微区元素及化学态的分布。

三、样品要求

1、XPS样品:

(1)样品不吸水,在超高真空中及X光照射下不分解、不释放气体。

(2)样品可以为粉末、薄膜或块状固体。

其中:薄膜样品背面做好标记;

块状样品尺寸不超过:5 mm×5 mm×2mm。

2、UPS样品:

(1)应为新鲜制备的块体或薄膜,表面无污染,推荐尺寸1cm*1cm,膜厚小于2mm,块体厚度小于5mm。

(2)样品背面做好标记。

(3)粉末、导电性差、易挥发、对紫外光敏感等状态下的样品不能测试。

3、深度剖析(刻蚀):样品为片/块体,其他参照XPS样品要求。

4、原位光照、成像XPS:参照XPS样品要求。

四、收费标准

1、常规XPS测试:

校内:全谱100元/个,单个元素高分辨谱50元/个。

校外:全谱200元/个,单个元素高分辨谱100元/个。

2、UPS测试:

校内:500元/样;校外:1000元/样

3、深度剖析(刻蚀):

校内:600元/小时;校外:1200元/小时

4、原位光照测试

校内:800元/样;校外:1600元/样

(默认采谱2次,即黑暗和光照条件下各一次)

5、成像XPS:

校内:500元/小时;校外:1000元/小时

6、增加点数的测试,包括但不限于增加测试点、线扫描、面扫描、增加深度剖析点数、团簇离子刻蚀等,依据实际耗用设备机时另行计收,不足半小时的,按半小时计费。

五、联系方式

1、联系人:

蒋老师,0531-88364068,jianghechun001@126.com,XPS QQ群:450292183

2、设备放置地点:功能晶体材料楼528房间