一、仪器简介

1、型号：JEM-2100F

2、生产厂家：日本电子JEOL

3、主要技术指标：

加速电压：80-200kV；

TEM放大倍数：25x-1.05Mx；

TEM信息分辨率：0.14nm；

STEM分辨率：0.19nm；

STEM放大倍数：200x-100Mx；

X射线能谱仪(EDX)元素分析范围：B5~U92；

EDX分辨率：136eV。

二、设备功能（测试项目）

1、明暗场形貌像，高分辨TEM

2、电子行射

3、STEM和EDS：质厚衬度形貌像，元素点、线、面分布图

4、高分辨HAADF：高分辨原子序数衬度像

5、三维重构系统:重建样品的三维立体图

三、样品要求

除磁性材料、挥发性有机材料之外的所有材料均适用。

四、收费标准

1、普通形貌、高分辨TEM和电子衍射：每个样品800元（电子照片10张，超出部分20元/张）；

2、普通元素分析：200元/测样点；

3、STEM：纳米级单个样品的元素点、线、面分布图，500元/测样点；

4、高分辨原子序数衬度像（HAADF）：300元/测样点；

五、联系方式

1、姓名：孔丽

电话：15726129663

邮箱：kongli@sdu.edu.cn

姓名：夏海兵

电话：15106996156

邮箱：hbxia@sdu.edu.cn

2、设备放置地点：济南（中心校区）功能材料楼133（133内）